Reconocimiento de patrones lingüísticos para la generación de ontologías aplicadas en la medición del conocimiento

Autores/as

  • Héctor Gonzalo Rojas Pescio Ureus Tecnología Multimedia e Informática Ltda.
  • Verónica Alejandra Roa Petrasic Universidad de Santiago de Chile

Resumen

El presente artículo analiza las principales áreas temáticas relacionadas al reconocimiento de patrones lingüísticos para la generación de ontologías. Comienza con una introducción a la ciencia cognitiva, como área científica que agrupa dominios de conocimiento incluidos en un modelo de medición propuesto. Luego, a partir de la amplitud del concepto ontología se exponen definiciones acotadas al marco teórico, así como ejemplos aplicados en recursos lingüísticos vigentes.
Se describen también las características generales y principales de conceptos de los sistemas de reconocimiento de patrones (SRP) y su aplicación en el procesamiento del lenguaje natural, para finalmente concluir en los principales aspectos a considerar en el desarrollo de un sistema de reconocimiento de patrones lingüísticos. El artículo contribuye a la exploración de nuevas metodologías sustentadas en TIC como apoyo a la gestión del conocimiento en organizaciones.

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Biografía del autor/a

  • Héctor Gonzalo Rojas Pescio, Ureus Tecnología Multimedia e Informática Ltda.

    Magíster en Ingeniería en Informática de la Universidad Andrés Bello. Ingeniero en Informática de la Universidad de Los Lagos. Licenciado en Organización y Gestión Tecnológica de la Universidad de Santiago de Chile.
    Gerente General Ureus Tecnología Multimedia e Informática Ltda.

  • Verónica Alejandra Roa Petrasic, Universidad de Santiago de Chile

    Doctor of Philosophy in Science and Technology Policy Studies, University of Sussex. Master of Science in Public Policies for Science, Technology and Innovation, University of Sussex. Ingeniera Civil Industrial y Licenciada en Ciencias de la Ingeniería de la Universidad de Santiago de Chile.
    Académica Jornada Completa Departamento Tecnologías de Gestión, Universidad de Santiago de Chile.

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Publicado

2019-07-31

Número

Sección

Tecnología

Cómo citar

Reconocimiento de patrones lingüísticos para la generación de ontologías aplicadas en la medición del conocimiento. (2019). Revista Gestión De Las Personas Y Tecnología, 12(35), 16. https://revistas.usach.cl/ojs/index.php/revistagpt/article/view/4001